客户面临的课题

他们在测量厚度仅50μm的电池薄膜厚度时，曾使用“千分尺”手动进行测量，
但不同作业人员的测量压力不同，导致测量结果出现偏差。

虽然尝试过使用光学式位移传感器来测量薄膜厚度的方法，但由于薄膜表面有光泽，
无法获得稳定的测量结果。

同时，由于是手动测量，测量一片需要10分钟以上，生产效率极低。

美德龍的方案

一般情况下，使用“千分尺”进行测量会因作业人员的测量压力不同而产生个人差异，
不适合精度要求高的微米级电池薄膜厚度的测量。

美德龙的“精密气压式传感器”装有独创的气压回路，是非接触式气压式传感器。
通过伺服电机读取高精度ON/OFF位置信号，能以±0.5μm的重复精度稳定测量50μm薄膜的厚度。

与作业人员的手动作业相比，自动化测量可以大幅度缩短约90%的测量时间。

负责人评语

在半导体行业，除了上述案例，本产品还被用于“晶片厚度测量”、“铸锭外径测量”等
使用光传感器及激光传感器无法稳定测量的微米级测量用途。

在有些地区，本公司营业员还可直接上门进行实机演示。
请随时联系。

市场部
负责人

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